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EV-ADF4157SD1Z 零件图片(仅供参考)

EV-ADF4157SD1Z
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EV-ADF4157SD1Z 规格参数

EV-ADF4157SD1Z是亚德诺半导体(ADI)推出的一款计时类评估板,专用于评估其核心ICADF4157频率合成器的性能。该板卡属于评估和演示板及套件系列,为核心芯片提供了一个即插即用的硬件验证环境。

其核心功能是实现单路分数-N锁相环(PLL)频率合成。相较于整数-N架构,分数-N合成技术能提供更高的频率分辨率和更优的相位噪声性能,适用于对频率精度和频谱纯度要求极高的场合。通过该评估板,工程师可以全面测试ADF4157的各项关键参数,为通信、测试测量等领域的射频本地振荡器(LO)设计提供直接的性能参考和快速原型验证方案。

  • 型号:EV-ADF4157SD1Z
  • 品牌:Analog Devices Inc. (ADI,亚德诺半导体)
  • 封装:
  • 类目:开发板,套件,编程器 > 评估板 > 评估和演示板及套件
  • 描述:EVAL BOARD FOR ADF4157
  • 系列:-
  • 包装:盒
  • 产品状态:不适用于新设计
  • 类型:计时
  • 功能:频率合成器
  • 嵌入式:无
  • 使用的 IC/零件:ADF4157
  • 主要属性:单路分数-N PLL
  • 辅助属性:6GHz
  • 内含物:板
  • EV-ADF4157SD1Z,ADI(亚德诺)产品一站式供应商。
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EV-ADF4157SD1Z 基本参数:

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